Toggle Menu

Você está aqui: Home » Infra-estrutura » Microscopia AFM/STM

Microscopia AFM/STM
Microscopia AFM/STM Responsável: Henrique Eisi Toma/Koiti Araki

Microscópio AFM/STM
Microscópio PicoSPM I (Agilent) com controladores PicoScan2100 (Agilent)  e MACMode(Agilent), e controlador de modo de força pulsado (PFM, Witec).

Técnicas disponíveis:
AFM de contato
AFM de contato intermitente
MAC Mode AFM
AFM in situ (medidas sob líquidos)
Microscopia de Força Magnética ( MFM)
Microscopia de Força Elétrica (EFM, polarização somente na amostra)
Modo de Força Pulsado (PFM, imagens de adesão, elasticidade, rigidez)

Contato com o responsável